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朱惠民
【姓名】
朱惠民
【职称】
【研究领域】
电力工业;工业经济;
【研究方向】
【发表文献关键词】
少子寿命,吸杂,氧沉淀,铝背场,非平衡,快速热退火,间隙氧,寿命变化,寿命,复合中心,单晶硅片,晶格应力,太阳能,硅中氧,PECVD,光电转换效率,河北工业大学,材料研究,去离子水,Fourier变换,
【工作单位】
云南半导体器件厂
【曾工作单位】
云南半导体器件厂;
【所在地域】
昆明
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[1]任丙彦,左燕,霍秀敏,励旭东,王文静,许颖,赵玉文,朱惠民,傅洪波.
硅光单体电源铝背场吸杂对非平衡少子寿命的影响
[J]半导体学报.2004,(08)
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高萍
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(学者,学者单位,篇数)
左燕
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1
王文静
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2
许颖
北京市太阳能研究所
2
赵玉文
北京市太阳能研究所
1
傅洪波
云南半导体器件厂
3
励旭东
北京市太阳能研究所
1
任丙彦
河北工业大学
3
霍秀敏
河北工业大学
1
傅洪波
昆明天达阳光科技有限公司
1
董俊
昆明天达阳光科技有限公司
1
蒋慕蓉
云南大学
1
赵龙
河北工业大学
2
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该学者文献引用过的学者
(学者,学者单位,篇数)
李春龙
浙江大学
2
阙端麟
浙江大学
2
A.Misiuk
波兰科学院
2
杨德仁
浙江大学
2
徐进
浙江大学
2
马向阳
浙江大学
2
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