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汪辉
【姓名】
汪辉
【职称】
副教授;
【研究领域】
无线电电子学;计算机硬件技术;电力工业;
【研究方向】
铜互连工艺和射频无源器件方面的研究
【发表文献关键词】
电迁移,早期失效,表面缺陷,最弱链接近似,失效机制,失效分析,静电放电模型,失效特征,电过应力,防静电保护电路,起伏程度,铜互连线,电流拥挤,质量输运,有限元分析,缺陷密度,表面扩散,嵌入式网络解决方...
【工作单位】
上海交通大学
【曾工作单位】
上海交通大学;
【所在地域】
上海
学术成果产出统计表
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学术成果产出明细表
中国期刊全文数据库
共找到31篇
[1]桂鹏;汪辉;.
铜互连氮化硅薄膜沉积技术中电压衰减的研究
[J]电子与封装.2011,(03)
[2]王楠;汪辉;.
高k栅介质的可靠性问题
[J]半导体技术.2009,(01)
[3]许建华;汪辉;.
Cu通孔诱导的应力对CMOS迁移率影响分析
[J]半导体技术.2009,(03)
[4]施海铭;汪辉;李化阳;林俊毅;.
Al-Cu互连导线侧壁孔洞形成机理及改进方法
[J]半导体技术.2009,(06)
[5]邵一琼;汪辉;任炜星;.
提高功率多芯片模块终测成品率的方法探讨
[J]半导体技术.2009,(11)
[6]路秀利;汪辉;.
生物芯片电化学检测仪的嵌入式系统设计
[J]信息技术.2010,(02)
[7]尹匀丰;汪辉;.
空气隙Cu互连结构热应力史研究
[J]半导体技术.2010,(04)
[8]姚一杰;汪辉;.
多层空气隙Cu互连结构耦合电容的优化
[J]半导体技术.2010,(07)
[9]季爱慈;王世明;汪辉;.
高端SOC芯片的外部存储器接口设计
[J]微电子学与计算机.2006,(01)
[10]陈晓斌;汪辉;.
静电放电模型及其失效特征
[J]电子质量.2006,(09)
更多
承担国家科研项目及科技成果产出
承担国家科研项目
共找到1个
[1]汪辉;.
扩散阻挡层对铜互连内质量输运机制的影响- - 用户条件下的晶圆级电迁移测试与模拟研究
[A].上海交通大学;.项目经费 8万元.2006-03-27.资助文献数
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研究方向相近的学者
(学者,学者单位)
黄绍泉
中国科学院上海冶金研究所
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合作过的学者
(学者,学者单位,篇数)
陈晓斌
上海交通大学
1
翁妍
上海交通大学
1
徐洁晶
上海交通大学
1
任韬
上海交通大学
1
汪润春
上海交通大学
1
宋鸣
上海交通大学
1
王国宏
中国科学院半导体研究所
1
朱建军
中国科学院半导体研究所
1
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该学者文献引用过的学者
(学者,学者单位,篇数)
王国宏
中国科学院半导体研究所
1
朱建军
中国科学院半导体研究所
1
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引用过该学者文献的学者
(学者,学者单位,篇数)
徐洁晶
上海交通大学
1
任韬
上海交通大学
1
翁妍
上海交通大学
1
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