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光散射式激光测粒仪及其应用

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【作者】 王乃宁张宏建虞先煌

【机构】 上海机械学院浙江大学

【摘要】 本文讨论了目前得到广泛应用的衍射式激光测粒仪(如英国Malvern公司生产)在使用中的局限性,指出了它们在小粒径范围内的测量精度是不高的。在此基础上发展了FAM激光测粒仪。经对比性实测表明:其性能已较Malvern仅有了明显的提高和改善。文章最后给出了FAM激光测粒仪在许多应用中的实例。

  • 【会议录名称】 上海市颗粒学会1990年年会论文集
  • 【会议名称】上海市颗粒学会第三届学术年会暨会员大会
  • 【会议时间】1990-03-21
  • 【会议地点】中国上海
  • 【分类号】TH744.5
  • 【主办单位】上海市颗粒学会
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