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基于激光线扫技术的高反光航空关键零部件几何形貌三维测量方法

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【作者】 徐然; 王俊涛; 石亮; 刘志毅; 邵成伟;

【机构】 中国航空综合技术研究所;

【摘要】 随着航空工业的快速发展,对航空关键零部件的精确测量提出了更高要求。本文提出了一种基于激光线扫技术的三维测量方法,专门针对高反光航空关键零部件的几何形貌进行高精度测量。该方法结合了激光线扫技术与特定的图像处理算法,能够有效应对高反光表面带来的测量难题。本文首先介绍了激光线扫技术的基本原理及其在航空零部件测量中的应用背景,随后详细阐述了测量系统的构成、测量流程及关键算法。实验结果表明,该方法在测量高反光航空零部件时具有较高的精度和可靠性,为航空装备制造和维修领域提供了一种新的高效测量手段。通过本研究,不仅可以提升航空零部件的测量精度,还能为相关领域的技术进步提供有益参考。

  • 【会议录名称】 第七届中国航空科学技术大会论文集
  • 【会议名称】第七届中国航空科学技术大会
  • 【会议时间】2024-10-21
  • 【会议地点】中国四川成都
  • 【分类号】V261
  • 【主办单位】中国航空学会
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