【作者】 朱婧娴； 孙为； 杨善翼； 杜知励； 杨锐； 纪伟； 施斌；

【机构】 口腔基础医学省部共建国家重点实验室培育基地和口腔生物医学教育部重点实验室武汉大学口腔医学院； 武汉大学口腔医院种植科；

【摘要】 目的:窄直径种植体应用于承载咬合力较大的后牙区可能存在种植失败风险,因此,本研究拟通过大样本量回顾性研究分析后牙区窄种植体存留率和种植失败的可能风险因素。方法:本研究回顾性分析2013年至2023年于我院接受后牙区窄种植体植入(直径≤3.5mm)患者的病历资料。经过纳入排除后,统计患者的种植体存留情况。采用Kaplan-Meier生存分析和广义估计方程(Generalized estimation equation, GEE)对患者性别、年龄、位点、骨增量程序、种植体表面处理、种植时期、修复方式等可能造成种植失败的风险因素进行分析。结果:本研究共纳入492位患者的679枚后牙区窄种植体。总体上,种植体十年存留率为96.0%,患者水平存留率为94.5%。其中大部分(70.4%)种植体脱落发生在负载后。存留植体中修复体脱落或松动的发生率为3.5%,患者水平为4.1%。Kaplan-Meier生存分析显示长种植体(p<0.001)和联冠修复(p=0.012)可显著提高种植体的存留时间。不同的种植体表面处理方式也对种植体存留率有影响(p<0.001)。GEE分析显示种植体长度(p=0.002)、单冠修复方式(p=0.01)和表面处理(p<0.01)均与种植失败显著相关。结论:后牙区窄种植体具有较高的长期存留率,是一种可预期的治疗选择。然而,较短的种植体、单冠修复方式和不同种植体表面处理方式是窄直径种植体在后牙区种植失败的可能风险因素。更多还原