金等离子体M带谱强度的定量测量

【作者】 王瑞荣； 董佳钦； 叶君建； 周关林；

【机构】 上海激光等离子体所高功率激光物理国家重点实验室；

【摘要】 <正>在"神光Ⅱ"多束高功率激光装置上利用列阵透镜匀滑钕玻璃波长0.53μm的强激光幅照平面金（Au）靶时产生X射线。大家一致公认X射线作背景光可以用来鉴定激光驱动内爆的动力学、对称性、稳定性等重要手段,但是激光X光转换包括复杂的物理过程,进行一些高Z元素K、L和M带谱定量测量具有独特的意义^[1][2][3]。在这个工作中,我们主要关心倍频（波长0.53μm）激光驱动靶X射线转换效率（ξ_x）的测量。一方面是在直径约0.9mm X射线背景光源中,激光转换成X射线光子效率,定义ξ_x更多还原