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高分子在界面上的构象行为

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【作者】 刘光明； 王涛； 王晓雯； 张广照；

【机构】 中国科学技术大学化学物理系； 华南理工大学材料科学与工程学院；

【摘要】 <正>界面上高分子的构象行为对于界面的物理和化学性质至关重要。目前,对于高分子在界面上的构象行为特别是动态行为的表征仍面临许多挑战。本文中,作者利用带有耗散测量功能的石英晶体微天平(QCM-D)和表面等离子体共振仪(SPR)等界面表征手段,对固体表面接枝中性高分子链、聚电解质链及两性聚电解质链的构象行为进行了系统研究。研究结果表明,QCM-D的频率变化反映接枝高分子链的质量变化或接枝高分子层的厚度变化,而耗散

【关键词】 高分子表征； 石英晶体微天平； 表面等离子体共振； 固-液界面； 高分子刷；
【基金】 国家自然科学基金(21004058,91127042,21234003);科技部(2012CB933800)资助
  • 【会议录名称】 2013年全国高分子学术论文报告会论文摘要集——主题D：高分子表征
  • 【会议名称】2013年全国高分子学术论文报告会
  • 【会议时间】2013-10-12
  • 【会议地点】中国上海
  • 【分类号】O631.3
  • 【主办单位】中国化学会高分子学科委员会
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