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一种提高HWS采样率的透镜式微扫描方法
【机构】 长春理工大学光电工程学院；
【摘要】 <正>哈特曼-夏克波前传感器(HWS)是一种在波前测量时常用到的仪器,广泛应用于光学系统装调,激光光源质量测量,空间光通信以及自适应光学等领域。为了提高哈特曼-夏克波前传感器的分辨率,改善其对待测波前采样不足的缺点,本文提出了一种利用微扫描装置使被测波前产生微小位移,通过对不同位移的波前分别进行采样,再通过微扫描图像重建、波前复原的方法复原出被测波前。哈特曼传感器主要由微透镜阵列和CCD探测器构成。在传统的HWS之前加入
- 【会议录名称】 第十五届全国光学测试学术交流会论文摘要集
- 【会议名称】第十五届全国光学测试学术交流会
- 【会议时间】2014-10-26
- 【会议地点】中国江西南昌
- 【分类号】TP212
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会