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低能B离子辐照C60薄膜的红外光谱学研究

FTIR Spectroscopy Studies of Low Energy B Ion Irradiated C60 Films3

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【作者】 金运范； 付云翀；

【Author】 Jin Yun-Fan~1,Fu Yun-Chong~(12) (1.Institute of Modern Physics,Chinese Academy of Sciences,Lanzhou 730000; 2.Graduated School of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049)

【机构】 中国科学院近代物理所； 中国科学院研究生院；

【摘要】 用傅立叶变换红外（FTIR）光谱分析了能量为170keV的B离子在C60薄膜中引起的辐照效应。利用FTIR谱数据演绎出了C60分子的损伤截面σ和损伤半径R。比较了C60分子的4个红外激活模对辐照的敏感性与结构稳定性。分析结果表明红外激活模中的T1u（4）对辐照最为敏感。而T1u（2）相对稳定。

【Abstract】 Irradiation effect in C6o films induced by 170 keV B ions,mainly includingthe process of the damage creation,is investigated by means of Fourier transform infrared（FTIR） spectroscopy.The damage cross sections cr and damage radius of C60 molecule are deduced from the FTIR spectrum data.The differences on irradiation sensitivity and structural stability for 4 infrared active modes of C60 films are compared.The results indicate that T1u（4） of infrared active mode is most sensitive for B ions irradiation.On the other hand T1u（2） of infrared active mode is comparatively stable under B ion irradiation.

【关键词】 低能B离子； C60薄膜； 辐照效应； FTIR谱；
【Key words】 Low energy B ion； C60 films； Irradiation effect； FTIR spectroscopy；
  • 【会议录名称】 第七届中国核学会“三核”论坛中国放射医学教育五十年暨中国毒理学会放射毒理委员会第八次全国会议论文集
  • 【会议名称】第七届中国核学会“三核”论坛中国放射医学教育五十年暨中国毒理学会放射毒理委员会第八次全国会议
  • 【会议时间】2010-07-01
  • 【会议地点】中国吉林长春
  • 【分类号】O484.41
  • 【主办单位】中国核学会
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