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晶体薄膜光子隧道显微技术
【作者】 张为权；
【机构】 浙江工程学院；
【摘要】 <正>光子隧道显微技术具有较高的横向和纵向分辨本领,它己广泛地应用于电介质样品的测量技术中。但目前尚未有关各向异性介质的测量报导。张为权提出了各向异性介质薄膜光子隧道效应的理论。给出薄膜的光学参量,得到反射和透射系数。(Applied optic.Vol.37,79-83,1998)本文要解决它的反演问题,即由反射系数得到光学参量。
- 【会议录名称】 第九届全国光学测试学术讨论会论文（摘要集）
- 【会议名称】第九届全国光学测试学术讨论会
- 【会议时间】2001-10-23
- 【会议地点】中国福建厦门
- 【分类号】O484.41
- 【主办单位】中国光学学会光学测试专业委员会