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MEMS封装技术及其可靠性

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【作者】 许建军孔学东李斌师谦

【机构】 华南理工大学微电子研究所电子元器件可靠性物理及应用技术国家级重点实验室

【摘要】 MEMS日益成为前沿的研究领域,而其可靠性研究因为种种原因显得相对滞后.本文就MEMS封装可靠性问题进行了介绍,然后介绍了2种新型的封装技术以及其相应的封装工艺中键合、封盖和密封的可靠性.

【关键词】 MEMS封装封装可靠性
【基金】 重点基金项目(6140437)
  • 【会议录名称】 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会论文选
  • 【会议名称】中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会
  • 【会议时间】2006-10-01
  • 【会议地点】中国福建武夷山
  • 【分类号】TN405
  • 【主办单位】中国电子学会可靠性分会
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