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双极化频率调制反射计的研制
【作者】 张重阳; 刘阿娣; 周楚; 李斌; 李弘; 俞昌旋;
【机构】 中国科学技术大学近代物理系基础等离子体实验室;
【摘要】 <正>本文研制了用于等离子体密度剖面诊断的双极化频率调制反射计,完成了在EAST托卡马克上的安装调试,分别取得了在高约束以及低约束模放电情况下的实验数据,经分析初步给出了相应的密度剖面分布,并且在JTEXT托卡马克装置上观察到了X模密度零点的反射现象。该密度剖面微波反射计采用频率调制方式运行,测量波段从Q波段至V波段(33至72GHz),等离子体密度测量范围从0至
- 【会议录名称】 第十五届全国等离子体科学技术会议会议摘要集
- 【会议名称】第十五届全国等离子体科学技术会议
- 【会议时间】2011-08-08
- 【会议地点】中国安徽黄山
- 【分类号】TL652
- 【主办单位】中国力学学会等离子体科学与技术专业委员会、中国物理学会等离子体物理分会、中国核学会核聚变与等离子体物理学会、第十五届全国等离子体科学技术会议组委会