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CRT分辨率及会聚测量技术分析
【机构】 清华大学电子工程系；
【摘要】 <正>1.引言近年来,随着科学技术水平的提高,人们的日常生活中越来越多地接触到CRT(CathodeRay Tube)显示器件,除我们所熟知的黑白、彩色显象管外,各种形式的信息处理系统、微机、智能终端等都离不开CRT,随着人们对显示质量要求不断提高,对CRT屏显示质量的测量技术就更加重视;在人们共同的努力下,其技术日臻完善。
- 【会议录名称】 中国电子学会真空电子学分会第十届年会论文集（下册）
- 【会议名称】中国电子学会真空电子学分会第十届年会
- 【会议时间】1995-11-13
- 【会议地点】中国北京
- 【分类号】TN141
- 【主办单位】中国电子学会真空电子学分会