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基于改进型BP网络的电路故障智能检测仪的设计

Design of Intelligent Test Instrument of Circuit Fault based on BP network improved by GA

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【作者】 韦尚方； 张广远； 万强； 曹海源；

【Author】 Wei ShangFang Zhang GuangYuan Wan Qiang Cao HaiYuan (Opto-electronics Facility,Wuhan Ordnance Noncommissioned Officers School, Wuhan,Hubei,430075,China)

【机构】 武汉军械士官学校光电技术研究所；

【摘要】 设计实现了一套复杂电路的智能检测仪,采用了遗传算法优化神经网络的方法,以提高系统的智能性。该仪器可应用于当前多种军用光电装备电路系统的检测和故障诊断,自动获取电路工作状态和信号参数,并快速判断电路的故障状态,为维修人员提供快捷的维修平台。应用表明,该仪器便于迅速检测电路状态,准确定位故障部位,大大提高了检测和诊断的效率。

【Abstract】 The design of intelligent test instrument for complex circuits is introduced.Based on optimized Back-Propagation Training Algorithm(BP) by Genetic Algorithm(GA),the intelligence of the system is improved.The instrument can test and diagnose the circuit system of several kinds of optoelectronic equipments,by getting work state and signal parameters automatically,determining the state of fault quickly.A convenient platform is provided for repair.It is indicated through practical applications that the instrument can detect the state quickly,locate the position of fault exactly and enhance the efficiency greatly.

【关键词】 智能仪器； 故障诊断； 神经网络； 光电装备；
【Key words】 intelligent instruments； diagnosis； neural network； optoelectronic equipment；
【基金】 装备预先研究项目(51327030203)
  • 【会议录名称】 第十二届全国设备故障诊断学术会议论文集
  • 【会议名称】2010年全国振动工程及应用学术会议暨第十二届全国设备故障诊断学术会议
  • 【会议时间】2010-08-15
  • 【会议地点】中国辽宁沈阳
  • 【分类号】TP216
  • 【主办单位】中国振动工程学会故障诊断专业委员会
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