【作者】 吴志儒； 小山； 正希；
【机构】 中国北京医科大学； 日本驹泽短期大学；
【摘要】 在实际使用诊断用X射线时,为了减少病人所受照射剂量和优化图像,了解诊断用X线发生装置中放射出的X线特性是很重要的。本文将就使用超小型硅半导体检测器来测定X线的能谱的新方法予以介绍。更多还原
