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控剖晶体管结温的稳态工作寿命试验方法

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【作者】 张德骏曹红苗庆海王家俭张兴华杨志伟满昌峰

【机构】 山东大学北京东方半导体器件厂

【摘要】 本文在分析了现行标准中稳态工作寿命试验方法所存在问题的基础上,提出了一种在试验过程中实时测量并严格控制晶体管结温在最高允许结温附近的稳态工作寿命试验方法.

【关键词】 晶体管工作寿命试验方法
  • 【会议录名称】 中国电子学会可靠性分会第十届学术年会论文集
  • 【会议名称】中国电子学会可靠性分会第十届学术年会
  • 【会议时间】2000-10
  • 【会议地点】中国
  • 【分类号】TN32
  • 【主办单位】中国电子学会可靠性分会
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