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左手媒质的全反射及表面波分析
【机构】 西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室；
【摘要】 本文分析了右手媒质与左手媒质交界处发生全反射的临界角的条件,并与两右手媒质交界处的全反射进行了对比。在此基础上给出了左手媒质中表面波场的具体形式,并与右手媒质中的表面波进行了对比,结果表明在发生表面波的情况下,左手媒质中的电磁波并没有表现出不同于普通右手媒质的特性。
- 【会议录名称】 2005’全国微波毫米波会议论文集（第二册）
- 【会议名称】2005’全国微波毫米波会议
- 【会议时间】2006-02-27
- 【会议地点】中国广东深圳
- 【分类号】O441.4
- 【主办单位】中国电子学会