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双层介质介电特性的微波测量
【机构】 山东大学电子工程系；
【摘要】 本文介绍了用开路同轴线作为双层电介质测量探头的等效电路,它由三个并联电容Cf、Coε1和Cl（ε2-ε1）等组成。同时,详细阐述了基于这一探头等效电路的解析公式而建立的双层介电特性的测量方法。在这种测量方法中,我们应用了探头的等效导纳与实际反射系数之间以及实际反射系数与测量反射系数之间的双线性关系,得出了等效导纳与测量反射系数之间的交差比值不变的性质,从而使测量与计算大为简化。用这一方法,在0.6至2.6GHZ的频率范围内进行了双层介质测量,结果表明双层介质的任一层的介电系数都可以用测量反射系数ρ1、ρ2、ρ3和ρm求得,而不需要确定等效电容Cf、Co和Cl或第一层介质厚度的数值。
- 【会议录名称】 1993年全国微波会议论文集（下册）
- 【会议名称】1993年全国微波会议
- 【会议时间】1993-10-25
- 【会议地点】中国安徽合肥
- 【分类号】TM934.3
- 【主办单位】中国电子学会微波分会