【作者】 王酣； 陈大为； 吴京燕； 郭守君；

【Author】 Wang Han Chen Dawei Wu Jingyan Guo Shoujun (Chinese Electronics Standardization Institute Measurement & Calibration Center Beijing 100007 China)

【机构】 中国电子技术标准化研究所计量与检测中心；

【摘要】 本文在分析集成电路老化原理和老化系统结构的基础上,提出了集成电路高温动态老化系统的校准方法,重点阐述了对老化系统二级电源和信号驱动单元的校准方法。更多还原

【Abstract】 This paper presents the calibration method of high temperature dynamic IC bum-in system based on the theory of IC bum-in and the structure of bum-in test system.The method of how to calibration the device power supply and the signal driver unit is the important item of this calibration methods.更多还原