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AlSb多晶薄膜的性质表征

CHARACTERIZATION OF POLYCRYSTALLINE ALSB THIN FILMS

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【作者】 杨凯武莉莉张静全冯良桓雷智王静雅徐福施琼蔡伟李卫蔡亚平黎兵郑家贵

【Author】 Kai Yang,Li li Wu,Jingquan Zhang,Lianghuan Feng,Zhi Lei,Jingya Wang,Fu Xu,Qiong Shi,Wei Li, Yaping Cai,Bing Li,Wei Cai,Jiagui Zheng (The College of Materials Science and Engineering,Sichuan University,Chengdu,P.R.China,610064.)

【机构】 四川大学材料科学与工程学院

【摘要】 本文研究用于太阳电池的AlSb多晶薄膜的性质。用几何靶磁控溅射方法在石英玻璃衬底上沉积了约460nm厚的AlSb薄膜,然后在580-650℃的温度下进行了1个小时的真空退火处理。X射线衍射谱显示退火后的AlSb多晶薄膜为闪锌矿结构,平均晶粒尺寸约31nm。Hall效应测试结果表明薄膜为P型半导体。用原子力显微镜观察到薄膜的表面平整。通过紫外-可见光透射谱计算得到其间接禁带宽度为1.53eV。实验结果说明了用简单方法制备AlSb多晶薄膜的的可行性和其在太阳电池中的应用潜力。

【关键词】 AlSb多晶薄膜太阳电池磁控溅射
【基金】 国家高技术研究发展计划资助项目(No.2006AA05Z418)的资金支持
  • 【会议录名称】 第十届中国太阳能光伏会议论文集:迎接光伏发电新时代
  • 【会议名称】第十届中国太阳能光伏会议
  • 【会议时间】2008-09-19
  • 【会议地点】中国江苏常州
  • 【分类号】TM914
  • 【主办单位】中国可再生能源学会、江苏省常州市人民政府、中国可再生能源学会太阳能光伏专委会
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