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氦质谱细检漏国军标的修改方案

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【作者】 王庚林; 王彩义; 王莉研; 董立军; 李飞;

【机构】 北京市科通电子继电器总厂;

【摘要】 以前期研究成果为基础,计算分析了国际电工委员会标准和我国国家标准中密封严酷度分级的氦质谱细检漏测量漏率判据,提出了进行密封严密度分级的国军标修改方案及相关因素的处置方法。

【关键词】 氦质谱; 细检漏; 国军标; 修改方案;
  • 【会议录名称】 2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会论文集
  • 【会议名称】2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会
  • 【会议时间】2009-10-19
  • 【会议地点】中国江西玉山
  • 【分类号】TB773
  • 【主办单位】中国电子学会可靠性分会、中国电子学会元件分会、中国电子学会半导体与集成技术分会、中国电子学会材料学分会、中国仪器仪表学会泛珠三角区域分会联盟、广东省电子学会、广东省仪器仪表学会、中国电子产品可靠性与环境试验研究所(中国赛宝实验室 工信部电子五所)、电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室、《电子产品可靠性与环境试验》期刊编辑部
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