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荧光法测量复合屏蔽材料X射线透过率

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【作者】 詹峻岭徐曦黑东炜罗剑辉

【机构】 中国工程物理研究院电子工程研究所西北核技术研究所

【摘要】 用7种纯材料做荧光靶,在荧光X射线装置上对复合屏蔽材料平板样品进行了X射线透过率实验测量,获得了100keV以下16个单能点的X射线透过率测量数据。根据材料对X射线的吸收规律,理论外推了100keV~200keV的X射线透过率。

  • 【会议录名称】 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集
  • 【会议名称】第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
  • 【会议时间】2009-07-01
  • 【会议地点】中国辽宁沈阳
  • 【分类号】O434.1
  • 【主办单位】中国电子学会核电子学与核探测技术分会抗辐射电子学与电子脉冲专业委员会、中国核学会核电子学与核探测技术分会抗辐射电子学与电子脉冲专业委员会、中国工程物理研究院电子工程研究所
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