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电子元器件内部水汽含量与密封性关系的研究——有关氦质谱细检漏的军用标准应当修改
【机构】 北京市科通电子继电器总厂；
【摘要】 通过对密封性氦质谱细检漏漏率公式的推演、典型实例和漏率判据的计算、国内外军用标准的分析,研究发现现行有效的中国和美国军用标准的漏率判据普遍保证不了上百天或更长贮存使用时间的内部水汽含量要求,这必将危及密封元器件的可靠性,所以有关密封性氦质谱细检漏的中国国家军用标准应当修改。
- 【会议录名称】 中国电子学会第十五届电子元件学术年会论文集
- 【会议名称】中国电子学会第十五届电子元件学术年会
- 【会议时间】2008-11
- 【会议地点】中国北京
- 【分类号】TN606
- 【主办单位】中国电子学会元件分会、中国电子元件行业协会、IEEE北京分会CPMT专业委员会、IEEE北京分会UFFC专业委员会