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非制冷红外焦平面非均匀性测试技术研究

Non-uniformity measurement of uncooled infrared focal plane array

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【作者】 钱芸生张俊举孙恋君邢素霞常本康

【Author】 QIAN Yun-sheng ZHANG Jun-ju SUN Lian-jun XING Su-xia CHANG Ben-kang (School of Electronic Engineering & Photoelectric Technology,Nanjing University of Science & Technology,Nanjing 210094,China)

【机构】 南京理工大学电子工程与光电技术学院

【摘要】 非制冷焦平面的非均匀性和噪声是限制非制冷红外热成像系统性能的主要因素。研制了非制冷红外焦平面的非均匀性测试系统,系统由黑体、红外光学系统、焦平面驱动电路、热电温控电路、信号处理系统、计算机和测试软件等构成,利用该系统可以将微测辐射热计非制冷红外焦平面各像元的输出信号数字化后传输给计算机,实现对焦平面的非均匀性测试和盲元统计,并给出了实验结果。

【Abstract】 Non-uniformity and noise of uncooled infrared focal plane arrays(UFPA)restrict the performance of uncooled infrared imaging system.The measurement system that can measure the Non-uniformity of UFPA is developed.The measurement system consists of blackbody,infrared optics, driver circuit of UPFA,control circuit of thermoelectric stabilizer(TEC),signal processing unit,computer and measurement software.By the measurement system,the pixel signals of microbolometer infrared focal plane arrays can be digitalized and transmitted to computer.The non-uniformity measurement and blank pixels statistic of UFPA are realized.The results are given and analyzed.

  • 【会议录名称】 2007年红外探测器及其在系统中的应用学术交流会论文集
  • 【会议名称】2007年红外探测器及其在系统中的应用学术交流会
  • 【会议时间】2007-07
  • 【会议地点】中国上海
  • 【分类号】TN215
  • 【主办单位】中国宇航学会光电技术专业委员会
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