节点文献

集成电路动态电流测试生成方法研究

Study on the method of transient current test generation

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 姜书艳陈光■宋国民刘红

【Author】 Jiang Shuyan Chen Guangju Song Guomin Liu Hong (School of Automation Engineering,University of Electronic Science and Technology,Chengdu 610054,China)

【机构】 电子科技大学自动化工程学院

【摘要】 集成电路动态电流测试作为电压测试和静态电流测试的一种补充手段越来越受到人们的重视。论文给出了开路故障和时滞故障两种动态电流测试模型,并针对开路故障模型给出了测试生成向量的选取方法,探讨了动态电流测试的产生算法。

【Abstract】 It is more and more important for the transient current(IDDT)test have become the complement method of voltage test and leakage current(IDDQ)test.Two kinds of IDDT module such as open fault module and delay fault module are given in this paper.The selection of test generation patterns for the open fault module is given,too.In the final,IDDT test generation arithmetic is discussed.

【基金】 国家自然科学基金资助(90407007)
  • 【会议录名称】 2007’中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(二)
  • 【会议名称】2007’中国仪器仪表与测控技术交流大会
  • 【会议时间】2007-06
  • 【会议地点】中国四川成都
  • 【分类号】TN407
  • 【主办单位】《仪器仪表学报》杂志社、中国仪器仪表学会、电子科技大学、《电子测量技术》、《国外电子测量技术》
节点文献中: