钼同位素丰度的负热电离质谱测量方法研究

【作者】 梁帮宏； 邓辉； 张舸； 杨彬；

【机构】 中国核动力研究设计院；

【摘要】 本文介绍了钼同位素丰度的负热电离质谱（NTIMS）测量方法。该方法采用双铼带结构,以 Sr（NO₃）₂作发射剂,并优化了涂样方法,使得1ug 钼产生了100mv 以上的稳定 MoO₃^-离子流。测量数据扣除了氧同位素的影响。该方法避免了钼的正离子质谱测量法的缺点,使得涂样量更小（＜2ugMo）,测量时间更短（10-15分）,精度更高（RSD 在 0．02%-0．17%之间）,数据更可靠（与标准值的相对误差在0．002%-0．2%之间）。更多还原