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颗粒尺寸对多晶C60薄膜有序-无序相变引起的内耗峰的影响

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【作者】 严锋； 王业宁； 顾民； 李仲； 杨震；

【机构】 南京大学固体微结构物理国家重点实验室南京大学物理系；

【摘要】 <正>一、引言 C60晶体在260K 附近发生了一个有序-无序相变,这在很多实验中都得到验证,但是其中有很多物理性质,仍然不能解释清楚。很多文章都报道了在相变附近,C60晶体的杨氏模量发生很大的变化,并且很多内耗实验都测出了一个损耗峰,但是,模量的改变量及峰的高低等都没有一个一致的结果。我们使用内耗方法对该相变也进行了细致的研究,并考察了多晶薄膜的颗粒尺寸对内耗峰及模量软化的影响。

  • 【会议录名称】 内耗与超声衰减——第五届全国固体内耗与超声衰减学术会议论文集
  • 【会议名称】第五届全国固体内耗与超声衰减学术会议
  • 【会议时间】1997-09
  • 【会议地点】中国安徽合肥
  • 【分类号】O484.4
  • 【主办单位】中国物理学会内耗与超声衰减专业委员会、中国科学院固体物理研究所、中国科学技术大学内耗与固体缺陷联合开放研究实验室
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