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能谱仪(EDS)无标样分析程序背底扣除的实验技术
【作者】 张大同；
【机构】 华南理工大学测试中心；
【摘要】 <正>利用无标样分析程序计算样品成分,必须精确地扣除背底。能谱背底是由样品中产生的连续谱 X 射线所形成。Fiori 等考虑连续谱被样品基体和探测器的吸收,提出背底模拟扣除法。该法用下式计算背底强度值 I_E：
- 【会议录名称】 第八次全国电子显微学会议论文摘要集（Ⅱ）
- 【会议名称】第八次全国电子显微学会议
- 【会议时间】1994-10
- 【会议地点】中国陕西西安
- 【分类号】TH842
- 【主办单位】中国电子显微镜学会