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能谱分析中应注意的几个问题
【机构】 南京大学现代分析中心；
【摘要】 <正>X 射线能量色散谱仪(EDS)是材料科学研究中不可缺少的重要工具之一,特别在微区分析中已充分显示了它快速、准确的优越性。本文将简要谈谈 EDS 在分析中应注意的几个问题。我室 JEM-200CX 透射电子显微镜配备的是英国 Link860型能谱仪,几年来工作状态良好,但也出过一些故障,经总结笔者认为有以下几个问题在使用中应引起注意。
- 【会议录名称】 第八次全国电子显微学会议论文摘要集（Ⅱ）
- 【会议名称】第八次全国电子显微学会议
- 【会议时间】1994-10
- 【会议地点】中国陕西西安
- 【分类号】TH842
- 【主办单位】中国电子显微镜学会