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单粒子效应引起CPU寄存器位翻转的测试系统

A Testing System of Single Event Upset for Microprocessor Registers

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【作者】 王树金； 钱希承； 邢建萍； 张庆祥；

【Author】 Wang Shujin Qian Xicheng Xing Jianping (Institute of Modern Physics. Academia Sinica, Lanzhou, 730000) Zhang Qinxiang (Lanzhou Institute of Physics. Lanzhou, 730000)

【机构】 中国科学院近代物理研究所； 兰州物理研究所；

【摘要】 本文简述一个测试系统．该系统能估计微处理器80C86内部寄存器的单粒子位翻转频度,它的硬件构成以及SEU检测过程中的软件指令流程被分别加以说明。该系统巳在252Cf放射源照射80C68芯片的情况下．成功的观测到了它的单粒子翻转效应．

【Abstract】 This paper describes a testing system which can assess the SEU-Tate of the microprocessor 80C86. The software instruction sequence of SEU test procedure and the structure of the hardware are demonstrated respectively. The single event upset effect has been measured successfully for a 80C86 CPU chip irradiated by the

【关键词】 单粒子翻转效应(SEU)； 测试系统； 软件； 硬件；
【Key words】 SEU (Single Event Upset) Testing system Software Hardware；
  • 【会议录名称】 第8届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集（二）
  • 【会议名称】第8届全国核电子学与核探测技术学术年会
  • 【会议时间】1996-12
  • 【会议地点】中国广东珠海
  • 【分类号】TP333
  • 【主办单位】中国电子学会核电子学与核探测技术分会、中国核学会核电子学与核探测技术分会
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