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中子多层膜光学元件研究

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【作者】 王占山; 张众; 吴永荣; 陈玲燕;

【机构】 同济大学精密光学工程技术研究所物理系;

【摘要】 <正>随着中子检测技术的日益发展和广泛应用,人们对入射到被测样品表面的中子强度的要求越来越高。采用中子多层膜光学元件是提高中子利用率的有效手段之一。利用中子多层膜单色器代替晶体单色器可以大大提高出射中子强度和单色性。使用基于中子非周期多层膜超反射镜的中子导管可以在不对中子源和测量谱仪做任何改动的条件

  • 【会议录名称】 第三届散裂中子源多学科应用研讨会论文集
  • 【会议名称】第三届散裂中子源多学科应用研讨会
  • 【会议时间】2006-07
  • 【会议地点】中国北京
  • 【分类号】TH74
  • 【主办单位】中国高等科学技术中心
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