La_2-x-yNd_ySr_xCuO₄薄膜的涨落电导研究

【作者】 刘勇； 屈继峰； 陆小力； 张红； 项小强； 李晓光；

【机构】 中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家实验室材料科学与工程系；

【摘要】 <正>我们测量了La1.6-xNd0.4SrxCuO4(x=0.1,0.12,0.14,0.16)薄膜在平行于c轴的外磁场作用下的电阻展宽曲线。零场时薄膜在超导转变以上的绝缘体行为服从对数输运关系ρab ∝log(1/T)。x=0.1样品的电阻转变曲线随着外磁场的增加显著展宽,14 T的外磁场就能够完全压制薄膜的超导电性,我们发现超导电性被破坏后,样品的电阻仍然服从对数输运关系。x=0.12,0.14,0.16的样品的电阻转变曲线随着外磁场的增加向低温平移,同时其正常态电阻则沿着对数输运关系ρab ∝log(1/T)向低温延伸。上述更多还原