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电子探针对氧化锆与树脂黏接断面的研究

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【作者】 李莹张富强郑珊靳喜海孙静高濓

【机构】 上海第二医科大学附属第九人民医院中国科学院上海硅酸盐研究所

【摘要】 目的:观察经二氧化硅(silica,SiO2)表面处理的氧化钇稳定的四方多品氧化锆(yttria stabilizetetragonal zirconia polycrystal,Y-TZP)与树脂黏接后的断面,以进一步了解SiO2表面处理在Y-TZP与牙科树脂黏接中的作用。方法:用溶胶-凝胶法在4个Y-TZP试样上制备SiO2薄膜作为薄膜组;另外4个Y-TZP试样作为对照组。分别用EPMA-8705QH2电子探针和INCA Energy能谱仪观察两组试样在拉伸剪切试验后的黏接断面。结果:背散射电子形貌象显示两组的Y-TZP表面均未破坏,但薄膜组表面残留的树脂黏接剂颗粒较多。电子探针能谱分析显示薄膜组在Y-TZP表面存在比对照组高的硅峰谱。结论:经SiO2表面处理后的Y-TZP可提高与牙科树脂的黏结力。

  • 【会议录名称】 2004年上海市口腔医学学术年会论文汇编
  • 【会议名称】2004年上海市口腔医学学术年会
  • 【会议时间】2004
  • 【会议地点】中国上海
  • 【分类号】R783.1
  • 【主办单位】上海市口腔学会
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