针尖参数对纳米软磁薄膜磁畴图像的影响

【作者】 陈琨； 王志红； 包生祥； 曾慧中； 李松霞； 戴林杉；

【机构】 电子科技大学材料分析中心；

【摘要】 <正> 磁力显微镜(MFM)是在原子力显微镜(AFM)基础上发展起来的,它具有分辨率高、不破坏样品及样品无需特别制备等特点。磁力显微镜的探针是具有磁性镀层的磁性针尖,在磁性样品表面上扫描时能感受到样品杂散磁场产生的微小作用力,探测这个力就能得剑产生杂散磁场的表面磁结构的信息。由于沿袭了原子力显微镜的特点,所以范德瓦尔斯(Van der Waals)力、静电力、磁力等都会对磁力显微镜的成像产生影响。更多还原