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4H-SiC双层浮结肖特基势垒二极管温度特性研究

Study on Temperature Properties of 4H-SiC Doubled-Floating Junction Schottky Barrier Diodes

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【作者】 南雅公张志荣周佐

【Author】 NAN Yagong,ZHANG Zhirong,ZHOU Zuo(Hexi University,Zhangye,Gansu 734000,P.R.China)

【机构】 河西学院

【摘要】 为了增强器件高温条件下的适应性,对4H-SiC双层浮结肖特基势垒功率二极管的温度特性进行了研究。结果表明,当温度变化时,器件的阻断电压、通态电阻、反向漏电流及开关时间等电学性质均要发生一定的变化。作为一种基于浮结技术的SiC新器件,通过数值模拟方法对其特征参数进行优化,可使其承载电流能力、阻断特性和开关速度等得到进一步的改善。

【Abstract】 Temperature properties of 4H-SiC doubled-floating junction Schottky barrier diodes were studied to enhance the adaptability of devices at high temperatures.It has been shown that some electrical characteristics,such as blocking voltage,on-state resistance,reverse leakage current density and switching time,varied with changing temperature.As a new SiC device based on floating layers buried in drift region,its current load capability,blocking features and switching rate could be improved by optimizing electric parameters using numerical simulation method.

【关键词】 4H-SiC双层浮结肖特基势垒二极管
【Key words】 4H-SiCDoubled-floating junctionSBD
【基金】 教育部宽禁带半导体材料与器件重点实验室开放基金资助项目
  • 【文献出处】 微电子学 ,Microelectronics , 编辑部邮箱 ,2011年01期
  • 【分类号】TN311.7
  • 【被引频次】8
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