【作者】 黎海文； 郝鹏； 吴一辉；
【机构】 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室；
【摘要】 <正>介绍一种自行研制的基于微硅狭缝的紫外-可见光谱仪。对该光谱仪杂散光的产生原因进行了分析,讨论了光谱仪的关键部件微硅狭缝的直线度、厚度与杂散光之间的关系,并对狭缝直线度产生的杂更多还原
