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二十四所集成电路设计/测试技术发展历程与展望

Development and Prospect of SISC’s IC Design and Test Technology

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【作者】 严顺炳； 李儒章；

【Author】 YAN Shun-bing,LI Ru-zhang(National Laboratory of Analog IC’s;Sichuan Institute of Solid-State Circuits,CETC,Chongqing 400060,P.R.China)

【机构】 模拟集成电路国家级重点实验室； 中国电子科技集团公司第二十四研究所； 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060； 重庆400060；

【摘要】 回顾了中国电子科技集团公司第二十四研究所各类模拟/混合信号集成电路设计/测试技术的发展历程,简述了二十四所照相制版和计算机辅助设计等从无到有的历程;最后,对二十四所集成电路设计、测试技术未来的发展进行了展望。

【Abstract】 The development of SISC’s design and test technology for analog/mixed-signal IC’s is reviewed.The evolution from IC mask making to computer aided design at SISC is described.And finally,the future development of SISC’s IC design and test technology is discussed.

【关键词】 模拟集成电路； 混合信号集成电路； 计算机辅助设计/测试；
【Key words】 Analog IC； Mixed signal IC； CAD/CAT；
  • 【文献出处】 微电子学 ,Microelectronics , 编辑部邮箱 ,2008年01期
  • 【分类号】TN40-24
  • 【被引频次】1
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