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基于J2EE的计量设备管理系统的研究与实现

Research on Metrological Instrument Management System Based on J2EE

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【作者】 孙虞禄； 万旻； 马庆贤；

【Author】 SUN Yu-lu,WAN Min,MA Qing-xian(Tsinghua University,Beijing,100084,China)

【机构】 清华大学机械工程系； 清华大学机械工程系 北京100084； 北京100084；

【摘要】 计量设备不同于一般设备,担负着各种认证、标准的实行工作,有一些特殊的属性,因此采用普通的设备管理系统难以进行全面的管理。针对这一问题提出了一种基于J2EE的解决方案,可以对计量设备进行有效的管理,并给出了实现案例,以期对企业中的计量设备管理工作有所帮助。

【Abstract】 Metrological instrument is a special kind of equipment,it has some particularities and is used in certification,detection and some other cases.It is unbefitting to use simple equipment management system.Aiming at this problem,it presents a solution based on J2EE(Java 2 Platform Enterprise Edition).An actual case shows that the system can help for the metrological instrument management.

【关键词】 计量设备； 管理信息系统； J2EE；
【Key words】 Metrological Instrument； MIS； J2EE；
  • 【文献出处】 中国制造业信息化 ,Manufacture Information Engineering of China , 编辑部邮箱 ,2008年03期
  • 【分类号】TP311.52
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】102
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