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不同组分PZT压电薄膜的性能

Properties of PZT thin films with different compositions

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【作者】 邵春玉王兢刘梦伟董维杰崔岩

【Author】 SHAO Chun-yu1,WANG Jing1,3,LIU Meng-wei3,DONG Wei-jie1,3,CUI Yai2,3(1.Department of Electronic and Information Engineering,Dalian University of Technology,Dalian 116023,China;2.MST Research Center,Dalian University of Technology,Dalian 116023,China;3.Key Laboratory for Micro/Nano Technology and System of Liaoning Province,Dalian University of Technology,Dalian 116023,China)

【机构】 大连理工大学电子与信息工程学院大连理工大学微系统中心大连理工大学微系统中心 大连116023大连116023辽宁省微纳技术及系统重点实验室大连理工大学大连116023

【摘要】 采用sol-gel工艺在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了不同条件的锆钛酸铅(PZT)薄膜。分析了不同的前烘温度、不同锆钛比例对PZT薄膜的微观结构和电特性所产生的影响。SEM分析结果显示,铁电薄膜的晶化较完善,薄膜表面均匀致密。用X射线衍射分析了不同条件制备的PZT薄膜,表明薄膜的微观结构和取向不仅对热处理的条件非常敏感,而且也深受薄膜组分的影响。铁电测试表明对PZT(锆/钛=30/70),300℃热处理的薄膜具有最大的自发极化值。而对于不同锆钛比的薄膜,在准同型相界附近的53/47配比的PZT薄膜表现出最好的铁电性、介电性和最高的体电阻率。

【Abstract】 Lead zirconate titanate(PZT)films with different compositions and pyrolysis temperature were fabricated on Pt(111)/Ti/SiO2/Si using sol-gel method.The effects of compositions and pyrolysis temperature on the microstructure,preferential orientation and electrical properties of PZT films were investigated.The SEM photographs reveal that all the PZT films are well-crystallized and have dense and uniform microstructure without any cracks.The XRD analysis indicates that the preferential orientation is not only sensitive to the pyrolysis temperature,but also to the compositions.The PZT(Zr:Ti = 30/70)pyrolyzed at 300℃ presents a high remanent polarization of 17.32μC/cm2 and coercive field of 23.3kV/cm.For the PZT films with different compositions,PZT(53/47)shows the highest remanent polarization,dielectric constant and resistivity.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(No.90207003;No.60474052).
  • 【文献出处】 功能材料与器件学报 ,Journal of Functional Materials and Devices , 编辑部邮箱 ,2007年02期
  • 【分类号】O484.4
  • 【被引频次】9
  • 【下载频次】453
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