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P~+PIN结构的650nm光电探测器的研究

Study of a P~+PIN Structure 650nm Photodetector

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【作者】 潘银松孔谋夫林聚承

【Author】 PAN Yin-song1,KONG Mou-fu1,LIN Ju-cheng21.Key Lab of Ministry of Education of Photoelectric Technique and System,ChongQing University, Chongqing 400030,China; 2.Electronics Engineering Department,ChongQing Electronics Polytechnic College,Chongqing 400021,China

【机构】 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆电子职业技术学院电子工程系 重庆400030重庆400030重庆400021

【摘要】 研究了一种新型P+PIN结构的硅650nm光电探测器,采用N型硅衬底,经过氧化光刻后,先作一次很薄淡硼扩散,再进行浓硼扩散,这样形成高低发射结的方法,减薄死层厚度,减少光生载流子的复合,提高了光电转换效率,从而使光谱响应度从普通650nm光电探测器的0.30A/W提高到了0.380A/W,且具有约279MHz的较高响应速度.

【Abstract】 A P+PIN structure 650nm photodetector is studied. After oxidation and photo fabrication on an N type Si substrate, we diffuse a thin P layer, and then diffuse a thick P+. So it forms a low-high emitter junction and reduce the inactive layer,and decreases the photo-induced carriers’ recombination,and enhances the conversion efficiency, and thus enhances spectrum responsivity.from common 650 nm photodetectors’ 0.30 A/W to 0.380 A/W, and has about 279 MHz higher responding speed, furthermore.

【关键词】 光电探测器光学吸收响应度P+PIN
【Key words】 PhotodetectorOptics absorbingResponsivityP+PIN
  • 【文献出处】 传感技术学报 ,Chinese Journal of Sensors and Actuators , 编辑部邮箱 ,2007年10期
  • 【分类号】TN36
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】295
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