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基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计

SRAM BIST Circuit Design Based on the March C-Algorithm

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【作者】 须自明； 苏彦鹏； 于宗光；

【Author】 XU Zi-ming1,SU Yan-peng1,YU Zong-guang1,2(1.SIT of Southern Yangtze University,Wuxi 214000,China;2.The 58th Research Institute,CETC,Wuxi 214035,China)

【机构】 江南大学信息工程学院； 江南大学信息工程学院 江苏无锡214000； 江苏无锡214000； 中国电子科技集团公司第五十八研究所； 江苏无锡； 214035；

【摘要】 针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块,讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,研究了测试算法的选择、数据背景的产生,并完成了基于March C-算法的BIST电路的设计。实验证明,该算法的BIST实现能大幅提高故障覆盖率。

【Abstract】 According to the 8K SRAM module of SOC,a BIST(built in self test) circuit design based on the March C-algorithm was discussed.The choose of the test algorithm,the generation of the database were studied,and the main part of the BIST design was worked out,based on the fault models of SRAM and the fault coverage of the test algorithm.The conclusions prove that the approach can improve the fault coverage obviously.

【关键词】 静态存储器； MarchC-算法； 内建自测试；
【Key words】 SRAM； March C-algorithm； BIST；
【基金】 电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室资助项目(51433020105DZ6802)
  • 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,2007年03期
  • 【分类号】TN402;TP333
  • 【被引频次】15
  • 【下载频次】336
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