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基于FPGA的低功耗测试生成器的设计

A Low Power Test Generator Design Using FPGA

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【作者】 陈卫兵； 何娟；

【机构】 阜阳师范学院； 阜阳师范学院 安徽阜阳236032； 安徽阜阳236032；

【摘要】 文中介绍了一种以LFSR为基础的准单输入跳变序列测试生成器,并且利用EDA技术在FPGA芯片上进行了设计实现。为产生低成本、低功耗的电子系统测试信号提供了一种简单易行的方法。

【Abstract】 This paper introduces a low power test generator design based on pseudo-random se-quence generator which is realized on FPGA chip by EDA technique. It provides a simple and feas-ible way of producing test signals for electronic systems with low costs and low power.

【关键词】 EDA； FPGA； LFSR； 伪随机序列； 准单输入跳变序列；
【Key words】 EDA FPGA LFSR Pseudo-random sequence Pseudo single-input-change；
  • 【文献出处】 中国仪器仪表 ,China Instrumentation , 编辑部邮箱 ,2006年02期
  • 【分类号】TN98
  • 【被引频次】1
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