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潜在通路分析在自动测试系统中的应用研究

Research of Applying Sneak Circuit Analysis to Automatic Test System

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【作者】 卢佩英沈士团孙宝江

【Author】 Lu Peiying Shen Shituan Sun Baojiang (School of Electronic and Information Engineering,BUAA,Beijing 100083,China)

【机构】 北京航空航天大学电子信息工程学院北京航空航天大学电子信息工程学院 北京100083北京100083

【摘要】 以军用电子设备自动测试系统的可靠性设计要求为背景,在详细了解目前航空航天、军用系统等领域一项重要的可靠性分析与设计工具——潜在通路分析的相关技术基础上,研究了军用电子设备自动测试系统中潜在通路分析的必要性和可行性,提出并实践了在自动测试系统中进行潜在通路分析的方法,进而研究了在自动测试系统设计中实现潜在通路自动分析的方法。

【Abstract】 Based on high reliability demand on design of the military electronic equipment automatic test system,while studying the Sneak Circuit Analysis theory,the necessity and feasibility of applying sneak circuit analysis to the military electronic equipment automatic test system have been i- dentified.Accordingly,the method of manual sneak circuit analysis in the automatic test system has been raised and applied,and that the automatic way is under researching.

  • 【文献出处】 计算机测量与控制 ,Computer Measurement & Control , 编辑部邮箱 ,2006年07期
  • 【分类号】TP273
  • 【被引频次】8
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