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台阶高度测量方法研究现状及进展

Development of step height measurement

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【作者】 蒋天罡; 李岩; 张书练;

【Author】 JIANG Tian-gang,LI Yan,ZHANG Shu-lian(Department of Precision Instrument,Technology and Instruments,Tsinghua University,Beijing 100084,China)

【机构】 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室; 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室 北京100084; 北京100084;

【摘要】 台阶高度测量是目前新提出的国际计量比对项目之一,当前的趋势是向纳米量级精度发展并尽量扩大测量范围。在分析现状和背景的基础上,大致归类了测量台阶高度的几种光学方法,着重介绍了其中绝对干涉方案的最新进展,从测量原理、测量精度以及量程等几方面比较了它们的优缺点。在此基础上提出以可调谐半导体激光器作为光源,采用可调合成波长链法实现纳米级精度毫米级量程的台阶高度测量,详细分析了方案的原理误差,得到最后的结论。

【Abstract】 Measurement of step height is one of the new international comparisons in nano metrology.Nowadays more extended range is required while the precision of measurement tends to be in nanograde.Several non contact optical methods are introduced in brief and the absolute distance interferometry with diode laser is emphasized hereinto.After comparing every method by measuring principle,resolution and measurement range,a CSWC ADI system was conceived with tunable diode laser to measure the step height in nanometer scale,and the theoretic uncertainty of the experiment was analyzed.Then the conclusion is drawn.

  • 【文献出处】 光学技术 ,Optical Technique , 编辑部邮箱 ,2006年01期
  • 【分类号】TG806
  • 【被引频次】5
  • 【下载频次】288
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