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多回路耦合CPL系统的几种失效情况分析

Experimental Investigation of Deprime of a CPL Coupled with Multi Loops

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【作者】 刘庆志苗建印张加迅侯增祺

【Author】 Liu Qingzhi Miao Jianyin Zhang Jiaxun Hou Zengqi (China Academy of Space Technology, Beijing 100086)

【机构】 中国空间技术研究院中国空间技术研究院 北京100086北京100086北京100086

【摘要】 毛细抽吸两相流体回路(CPL,CapillaryPumpedLoop)在运行过程中可能会发生蒸发器失效的现象,严重影响了其可靠性。文章对CPL在变工况过程中可能引起蒸发器失效的一些因素进行了分析,并通过实验研究了一个多回路耦合CPL系统在某些热边界条件发生骤变时,系统的瞬态响应以及部分蒸发器失效的过程。

【Abstract】 Evaporator maybe deprimes when a Capillary Pumped Loop (CPL) is operating, which affects its reliability greatly. Deprime of evaporator may result from many factors which are analyzed in this paper. Moreover, a multiple loop coupling CPL experiment system is developed and tests are conducted to observe transient responses and deprime procedures of the system when some thermal boundary conditions change.

  • 【文献出处】 中国空间科学技术 ,Chinese Space Science and Technology , 编辑部邮箱 ,2005年04期
  • 【分类号】V444
  • 【被引频次】3
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