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0.1μmSOI槽栅CMOS特性仿真
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【作者】
邵红旭
;
韩郑生
;
孙宝刚
;
【机构】
中国科学院微电子研究所
;
中国科学院微电子研究所 北京
;
100029
;
北京
;
100029
;
【关键词】
~~
;
【文献出处】
电子工业专用设备
,
Equipment For Electronic Products Manufacturing
,
编辑部邮箱
,
2005年01期
【分类号】TN405
【下载频次】25
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