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原子力显微镜在DNA研究中的应用

Application of atomic force microscope technology in DNA research

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【作者】 郭云昌； 蔡颖谦； 中岛秀郎；

【Author】 G UO Yun -chang*, CAI Ying-qian, NAKAJIMA Hideo. *Marketing Division, Shimadzu Interna tional Trading (Shanghai) Company Limited, Shanghai 200020, China

【机构】 岛津国际贸易(上海)有限公司市场部； 南方医科大学珠江医院神经外科； 岛津制作所分析测量部 200020上海； 510282广州； 101-8448日本东京；

【摘要】 目的探索原子力显微镜(AFM)研究DNA的分子结构的方法和优势。方法利用该显微镜对DNA分子进行扫描成像。结果AFM能够得到清晰分散的DNA图像,由于针尖的原因,其直径比理论值大。结论AFM在DNA表面结构研究中的具有很大的优势。

【Abstract】 As a new surface characterization method, atomic force m icroscope (AFM) has been applied into various aspects of sciences. The authors explored the way to research the surface structure by AFM and discussed the adva ntages of AFM in the DNA study.

【关键词】 显微镜检查,原子力； DNA； 扫描电镜；
【Key words】 Microscopy, atomic force； DNA； Scanning electron microscope；
【基金】 国家自然科学基金(30270491,10335070)
  • 【文献出处】 中华神经医学杂志 ,Chinese Journal of Neuromedicine , 编辑部邮箱 ,2005年07期
  • 【分类号】Q523;Q-336
  • 【被引频次】6
  • 【下载频次】266
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