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一种智能检测系统电路设计

A Design of Intelligence Examination System Electric Circuit

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【作者】 徐祯；

【Author】 XU Zhen(Zhengzhou Institute of Science & Technology,Zhengzhou Railway Bureau,Zhengzhou,450000,China)

【机构】 郑州铁路局郑州科学技术研究所 河南郑州450000；

【摘要】 简述了一种智能检测系统电路的设计 ,具体分析其中超高部分、轨距部分电路、里程部分测量电路、温度部分测量电路的设计 ,中央处理与 A/D转换电路 ,电源变换电路

【Abstract】 A design system of with intelligence examination is presented, and some circuits such as six circuit, extremely high part circuits, the mileage part measures the electric circuit, the temperature part measures t he design of the electric circuit, central controlling and the A/ D conversion e lectric circuit, power transformation electric circuit.

【关键词】 智能检测； 传感器； 单片机； A/D转换；
【Key words】 intelligence examination； sensor； single chip； A/D converter；
  • 【文献出处】 现代电子技术 ,Modern Electronic Technique , 编辑部邮箱 ,2004年24期
  • 【分类号】TP21
  • 【被引频次】1
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