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日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应

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【作者】 张东和； 萧佐； 刘静； 刘四清； 龚建村；

【机构】 北京大学地球物理系； 中国科学院空间环境与预报研究中心； 中国科学院空间环境与预报研究中心 北京100871； 北京100871； 北京100080； 北京100080；

【摘要】 利用国际GPS服务中心(IGS)的GPS观测数据, 分析了2003年10月28日特大耀斑期间日照边缘区域的电离层总电子含量(TEC)的响应特点. 计算结果表明, 这是有相关记录以来最强烈的一次电离层总电子含量突增事件, 在地面太阳天顶角80到110的空间范围内, 观测到了明显的由耀斑辐射引起的总电子含量突增. 在太阳天顶角90区域的TEC增加值大约为7 TECU, 在110度附近的总电子含量的增加值大约在1~2 TECU. 总的来看, 太阳天顶角越大, TEC增幅越小, 但在天顶角大于90的区域TEC随天顶角的减少的速度要大于天顶角90以内的区域.

【关键词】 GPS； TEC； SITEC； 耀斑； 日照边缘区域；
  • 【文献出处】 科学通报 ,Chinese Science Bulletin , 编辑部邮箱 ,2004年14期
  • 【分类号】P182
  • 【被引频次】5
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