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氧化钨薄膜变色机理研究

Studies on chromogenic mechnism of tungsten oxide thin films

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【作者】 马创新周春兰秦秀波王宝义魏龙奎热西钱海杰苏润钟俊

【Author】 MA Chuangxin ZHOU Chunlan QIN Xiubo WANG Baoyi WEI Long Kurash Ibrahim QIAN Haijie SU Run ZHONG Jun(Institute of High Energy Physics, the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049)

【机构】 中国科学院高能物理研究所中国科学院高能物理研究所 北京 100049北京 100049

【摘要】 利用慢正电子束流技术和X射线光电子能谱研究了热致变色和电致变色三氧化钨(WO3)薄膜中W离子在膜内和表面的分布。结合其变色性能,讨论了热致变色和电致变色之间的相关性。

【Abstract】 The distribution of tungsten ions, on the surface of and in the thermochromic and electrochromic tungsten oxides(WO3) thin films, was studied by slow positron beam and X-ray photoelectron spectroscopy. The correlations between thermochromism and electrochromism were discussed on the basis of chromogenic properties of WO3 thin films.

【关键词】 三氧化钨热致变色电致变色机理表面
【Key words】 Tungsten oxideThermochromismElectrochromismMechanismSurface
【基金】 国家自然科学基金(No.10275076,10275077)
  • 【文献出处】 核技术 ,Nuclear Techniques , 编辑部邮箱 ,2004年12期
  • 【分类号】O484.4
  • 【被引频次】8
  • 【下载频次】213
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